原位TEM技术揭示ZnO微/纳米线疲劳行为
2015-02-04 11:42:38 作者:未知来源:

  日前,在北京科技大学材料科学与工程学院张跃教授的指导下,博士生李培峰与中科院物理所的合作者利用原位TEM机械共振,研究了ZnO微/纳米线在高周应变下的疲劳行为,在一维纳米材料在各种场下的服役方面的研究取得新进展。

 

  该研究系统研究了ZnO微/纳米线的弹性模量随直径的变化以及ZnO微/纳米线共振振幅在阻尼效应作用下随共振时间及周次衰减的区别。ZnO微/纳米线经过108-109周次共振都显示了良好的疲劳性能,而遭受电子束辐照10 min后的ZnO纳米线共振几秒后即发生断裂,这在国际上尚属首次发现。
 

 

  这项研究取得进展后,李培峰以第一作者身份在《Nano Letters》(影响因子12.94)和《ACS Applied Materials and Interfaces》(影响因子5.90)分别发表论文一篇。

 

  这一研究结果为基于ZnO纳米材料的力电纳米器件的设计、构建、优化及应用提供了有益的指导,也为工作在紫外光、X射线下的纳米材料及器件的安全服役提供了参考。

氧化锌和氮化镓纳米线

 

  另外,李培峰还利用自己实验室搭建的纳米操控系统研究了ZnO纳米线在电场中的服役行为。研究发现ZnO纳米线电致损伤的阈值电压随直径的增大呈线性增大,而电流密度随直径的增大呈指数减小。并提出了热核-壳模型对ZnO纳米线的电致损伤机制进行解释。纳米材料电致损伤研究对指导光电、力电和压电纳米器件的实际应用是非常有必要的。此外,一系列利用AFM研究ZnO纳米线在力场及力电耦合场中的服役行为的研究结果尚未公开发表。


责任编辑:李玲珊

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