青岛科技大学李志波教授AFM:超韧可自修复弹性体问世!
2025-07-18 13:25:39 作者:本网发布 来源:高分子科学前沿 分享至:

 

热塑性聚氨酯/聚氨酯脲(TPU)广泛应用于汽车、鞋材、医疗器械等领域,但传统聚酯基TPU因软段(SS)结晶导致弹性不足,难以兼顾高韧性与高回弹性。现有解决方案(如增加硬段含量或降低聚酯二醇分子量)效果有限,且易牺牲材料强度。如何抑制软段结晶并强化分子间作用力,成为行业长期挑战。

青岛科技大李志波教授马远驰特聘副教授团队设计了一类基于聚己内酯(PCL)的新型TPU弹性体,通过引入酰基氨基脲(ASCZ)基团形成密集氢键阵列。该材料展现出70 MPa的极限强度1100%的断裂伸长率及260 MJ m⁻³的韧性,同时彻底抑制PCL结晶,实现1000%应变下的稳定回弹性。通过调节扩链剂化学结构,还可精准控制材料工作温度与自修复速率

合成设计

研究以PCL二醇、异佛尔酮二异氰酸酯(IPDI)及六种同系二酰肼(C1DH至C10DH)为原料,通过两步法合成TPU。ASCZ基团由酰胺和脲基组成,可形成三重氢键阵列(图1b),构建强相互作用的硬段(HS)网络。所有样品硬段含量固定为24 wt%,仅通过改变二酰肼亚甲基间隔基长度调控氢键密度。

图1 a) 含ASCZ基团的TPU弹性体合成路线(以TPU-C1、TPU-C6和TPU-C10为例,突出间隔基长度对硬段结构的影响)。聚合物中氨基甲酸酯和ASCZ基团分别用绿色和品红色标注,亚甲基间隔基以不同颜色阴影标示。 b) TPU弹性体结构示意图,硬段中包含氢键阵列。 

氢键密度梯度

理论计算与分子动力学模拟证实:TPU-C1(碳酰二肼)氢键位点浓度最高(5.6 mmol/g),ASCZ基团间距最小(0 Å),形成连续脲基阵列;而TPU-C10(癸二酸二肼)氢键密度最低(4.2 mmol/g),间隔基长达10.1 Å(图2)。流变学测试表明,高氢键密度的TPU-C1具有更宽的橡胶平台区,印证其物理交联网络更稳固。

图2 基于硬段化学组成和含量估算的TPU-C1至TPU-C10氢键位点密度及相邻ASCZ基团间距(dASCZ-ASCZ)。氢键位点密度以氢键供体(N—H基团)摩尔浓度(单位:mmol/g)表示,计算方法见支持信息。 dASCZ-ASCZ 基于亚甲基间隔基投影长度(每个C-C单键1.26 Å)按全反式构象估算。插图为TPU-C1(左)和TPU-C10(右)的假想分子间作用模式(未考虑硬段与PCL软段间氢键及异佛尔酮环导致的非共面性)。 

力学性能创纪录

极致强韧:所有样品均展现超高韧性(140–265 MJ m⁻³)。TPU-C1–C6的强度达48–70 MPa,断裂伸长率超1000%,可承载85 kg重量(图3b)。缺口测试中,TPU-C1的断裂能高达179 kJ m⁻²(图3g),为天然橡胶的18倍;穿刺实验显示其可抵抗18 N穿透力(图3h)。

弹性革命:DSC与XRD证实PCL软段结晶被完全抑制(图3f),材料保持非晶态。循环拉伸测试中,TPU-C1在100%应变下回弹性达0.78(表2),800%应变下仍保持0.31(图3e)。原位拉伸XRD表明,即使1000%应变下也未发生应变诱导结晶,突破聚酯基TPU弹性极限。

图3 a) TPU-C1至TPU-C10弹性体的单轴拉伸应力-应变曲线。 b) 宽度5 cm、厚度0.1 cm的TPU-C1弹性体薄膜承载85 kg重物的照片。 c) TPU-C1在100%固定最大应变下的典型循环拉伸曲线。 d) TPU-C1在100%至800%步进应变下的循环拉伸曲线。 e) 步进应变测试中TPU-C1至TPU-C10的回弹性随应变变化曲线。 f) TPU-C1至TPU-C10的DSC首次升温曲线(黑色实线为半结晶PCL二醇;竖虚线标记样品中软段PCL嵌段的玻璃化转变温度)。 g) 完整与带缺口TPU-C1样品的拉伸曲线对比(按Greensmith法计算断裂能)。 h) TPU-C1抗穿刺测试的力-位移曲线(插图为测试照片:厚度0.35 mm薄膜被钝头针以50 mm/min速度穿刺)。 

行业性能标杆

与近十年文献对比,该系列TPU在低应变(50–200%)下的回弹性优于所有聚酯基TPU,甚至接近聚醚基材料;高应变(400–1000%)时回弹性仍居聚酯类首位(图4a-b)。其综合性能超越商业产品,填补高韧性-高回弹性协同提升的技术空白。

图4 TPU-C1至TPU-C10与含多齿氢键硬段的文献报道TPU的回弹性-韧性Ashby图: a) 低应变区(50–200%); b) 高应变区(400–1000%)。括号内标注参考文献编号、软段/硬段化学组成及回弹性测试应变值。图a中0.8–1回弹性区间仅见于交联橡胶、水凝胶和离子凝胶。 

热稳定性与自修复

温度窗口可调:TPU-C1的硬段玻璃化转变温度(Tg,HS)达128°C,而TPU-C6降至67°C(图5b),证实氢键密度直接决定工作温度上限。TGA显示材料热分解温度均超200°C(图5a)。

高效自修复:85°C下,氢键密度最低的TPU-C10修复12小时即可完全恢复韧性;而TPU-C1需24小时(图5e)。SEM显示切口经修复后完全消失(图5d),修复后的薄膜可提起20 kg溶剂桶(图5f)。

图5 a) TPU-C1至TPU-C10的热重分析(TGA)曲线。 b) DMA测试的储能模量(E′)曲线(TPU-C1至TPU-C10曲线依次上移10倍; Tg,HS由平台区与下降区外推斜率交点确定)。 c) TPU-C1原始样品与85°C不同修复时间( theal)后的应力-应变曲线。 d) TPU-C1薄膜切口修复过程的SEM图像(左上:未修复;右上:85°C修复6 h;左下:12 h;右下:24 h)。 e) TPU弹性体在不同 t heal t heal  下的修复度(基于韧性恢复率)。 f) 修复后TPU-C1薄膜(0.8 g)提起20 kg溶剂桶的照片(承载自重25000倍)。

应用前景

该研究通过氢键阵列设计,首次实现聚酯基TPU韧性、弹性与自修复性的统一。TPU-C1的高温稳定性适用于耐热场景,TPU-C10的快速修复能力利于延长产品寿命。未来可进一步开发生物基聚酯路线,推动TPU产业绿色化发展。

 

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